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本发明涉及一种X射线超快检测装置及方法，以解决真空条纹相机、真空分幅相机等X射线超快诊断设备体积大，成本高，且控制较为复杂；超快半导体二极管无法实现亚皮秒乃至飞秒量级的X射线超快检测的问题。该装置包括激光器、波长转换机构、时域放大机构、光电...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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