一种X射线超快检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种X射线超快检测装置及方法，以解决真空条纹相机、真空分幅相机等X射线超快诊断设备体积大，成本高，且控制较为复杂；超快半导体二极管无法实现亚皮秒乃至飞秒量级的X射线超快检测的问题。该装置包括激光器、波长转换机构、时域放大机构、光电探测器、读出电路。激光器发出的测试激光传输至波长转换机构，波长转换机构将待测的X射线脉冲信号时域信息传递给测试激光，再将携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光传输至时域放大机构，时域放大机构对携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光进行时域展宽后，输出至光电探测器，光电探测器将接收到的光信号转换为电信号，并通过读出电路显示。

【技术实现步骤摘要】
一种X射线超快检测装置及方法
本专利技术涉及一种X射线超快检测装置及方法。
技术介绍
目前，国内外对X射线的检测，特别是针对皮秒、飞秒等短脉冲X射线信号的超快检测，通常是采用真空条纹相机、真空分幅相机等超快诊断设备进行检测。该类设备主要是利用光电阴极将X射线脉冲信号转换为电子发射信号，然后对电子发射信号进行快速扫描，从而实现对X射线脉冲信号的超快检测。上述方法中涉及真空装置及空间电子偏转控制，使得整个设备体积较大，成本较高，且控制装置较为复杂。此外，采用传统的半导体X射线探测器进行检测，主要是利用超快半导体二极管对入射X射线脉冲信号进行检测，受限于半导体探测器的时间响应及读出电路的采样带宽，目前仅能实现几十皮秒量级的X射线超快检测，无法实现亚皮秒乃至飞秒量级的X射线超快检测。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种X射线超快检测装置及方法，以解决现有技术中存在的真空条纹相机、真空分幅相机等X射线超快诊断设备涉及真空装置及空间电子偏转控制，使得整个设备体积较大，成本较高，且控制较为复杂；超快半导体二极管受限于半导体探本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X射线超快检测装置，其特征在于：/n包括激光器(1)、波长转换机构(2)、时域放大机构(3)、光电探测器(4)、读出电路(5)；/n所述激光器(1)发出的测试激光传输至波长转换机构(2)；/n所述波长转换机构(2)将待测的X射线脉冲信号时域信息传递给测试激光，再将携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光传输至时域放大机构(3)；/n所述时域放大机构(3)对携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光进行时域展宽后，输出至光电探测器(4)；/n所述光电探测器(4)将接收到的光信号转换为电信号，并通过读出电路(5)显示。/n

【技术特征摘要】
1.一种X射线超快检测装置，其特征在于：
包括激光器(1)、波长转换机构(2)、时域放大机构(3)、光电探测器(4)、读出电路(5)；
所述激光器(1)发出的测试激光传输至波长转换机构(2)；
所述波长转换机构(2)将待测的X射线脉冲信号时域信息传递给测试激光，再将携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光传输至时域放大机构(3)；
所述时域放大机构(3)对携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光进行时域展宽后，输出至光电探测器(4)；
所述光电探测器(4)将接收到的光信号转换为电信号，并通过读出电路(5)显示。


2.根据权利要求1所述的X射线超快检测装置，其特征在于：
所述波长转换机构(2)为半导体干涉式X射线波长转换机构。


3.根据权利要求2所述的X射线超快检测装置，其特征在于：
所述半导体干涉式X射线波长转换机构包括耦合透镜(21)、半导体波长转换芯片(22)；
所述半导体波长转换芯片(22)一侧镀有半透半反膜(23)，另一侧镀有全反射膜(24)；
所述测试激光通过耦合透镜(21)后，从半导体波长转换芯片(22)镀有半透半反膜(23)一侧射入，待测的X射线脉冲信号从半导体波长转换芯片(22)镀有全反射膜(24)一侧射入；
所述半导体波长转换芯片(22)将待测的X射线脉冲信号时域信息传递给测试激光，再将携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光通过耦合透镜(21)输出。


4.根据权利要求3所述的X射线超快检测装置，其特征在于：
所述激光器(1)发出的测试激光通过复用型光纤光路(6)传输至波长转换机构(2)；
所述波长转换机构(2)输出的携带有X射线脉冲信号时域信息...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹飞，汪韬，高贵龙，何凯，闫欣，田进寿，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：陕西;61