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使用近场微波的介电谱显微测量制造技术
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下载使用近场微波的介电谱显微测量的技术资料
文档序号:24705305
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一种使用近场微波的介电谱显微测量的系统或方法,包括:微波源,可调微波谐振器,探头,微波检测电路,位置装置和介电谱计算电路。微波源生成微波信号施加到可调微波谐振器;调整或固定探头距离被测物目标区域的位置;调谐可调微波谐振器;探头将微波信号施加...
该专利属于李赞所有,仅供学习研究参考,未经过李赞授权不得商用。
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