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本发明公开了一种膜层厚度控制方法、装置、设备及计算机读存储介质，所述控制方法步骤包括：设定膜层的测试厚度，依据所述测试厚度进行镀膜，获得待测膜层；对所述待测膜层进行检测，获得所述待测膜层的检测厚度；将所述测试厚度和所述检测厚度进行对比，获得...
该专利属于歌尔股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过歌尔股份有限公司授权不得商用。

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