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可控硅耐量测试装置及方法制造方法及图纸
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文档序号:24679581
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本申请实施例提供一种可控硅耐量测试装置及方法,通过第一控制电路根据设定冲击持续时间和设定冲击间隔时间控制第二控制电路每次输入的电流冲击信号的冲击持续时间和冲击间隔时间。然后,通过第二控制电路按照设定冲击电流幅度向待测可控硅输入电流冲击信号,...
该专利属于吉林华微电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过吉林华微电子股份有限公司授权不得商用。
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