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本发明公开了一种铁电薄膜表面功函数的测定方法，包括：S1、在待测铁电薄膜表面制备具有不同功函数的金属顶电极；S2、测量不同金属顶电极与待测铁电薄膜之间的势垒差；S3、基于所述势垒差及金属顶电极的功函数生成所述待测铁电薄膜表面功函数。与现有技...
该专利属于长江师范学院所有，仅供学习研究参考，未经过长江师范学院授权不得商用。

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