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本发明提供一种多功能Stokes‑Mueller矩阵成像偏振仪的标定方法，采用本征值标定法，能够实现对反射系统和透射系统以及系统各个元件的精确标定。本发明采用一次本征值标定法和分步本征值标定法分别对该系统进行标定，不仅实现了偏振仪的高精度测...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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