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本申请是关于通过以下步骤来测定照射在传感器材料上的预定类型辐射的量：a)提供传感器材料；b)使所述传感器材料曝露于所述预定类型辐射，用于使所述预定类型辐射在所述传感器材料中保留预定时间段；c)使已曝露于所述预定类型辐射的所述传感器材料经受热...
该专利属于图尔库大学所有，仅供学习研究参考，未经过图尔库大学授权不得商用。

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