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本发明提供一种选择性发射极技术的保护工艺,其特征在于:从掺杂区域的硅片上方均匀通入臭氧,在掺杂区域上氧化生成保护层。其中通入臭氧的浓度在100‑10000ppm,通入臭氧的时间为10‑1000s,生成的保护层厚度为2‑20nm。使用本发明选...该专利属于江苏润阳悦达光伏科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过江苏润阳悦达光伏科技有限公司授权不得商用。
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本发明提供一种选择性发射极技术的保护工艺,其特征在于:从掺杂区域的硅片上方均匀通入臭氧,在掺杂区域上氧化生成保护层。其中通入臭氧的浓度在100‑10000ppm,通入臭氧的时间为10‑1000s,生成的保护层厚度为2‑20nm。使用本发明选...