温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种功率器件及其制备方法、应用。该功率器件依次包括相互叠置的一第一氧化层、一氮化硅层、一第二氧化层、一硅片层和一第三氧化层;第一氧化层的厚度为3~5μm;氮化硅层的厚度为0.05~0.2μm;第二氧化层的厚度为0.5~2μm;硅...该专利属于上海先进半导体制造股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海先进半导体制造股份有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种功率器件及其制备方法、应用。该功率器件依次包括相互叠置的一第一氧化层、一氮化硅层、一第二氧化层、一硅片层和一第三氧化层;第一氧化层的厚度为3~5μm;氮化硅层的厚度为0.05~0.2μm;第二氧化层的厚度为0.5~2μm;硅...