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本发明涉及电子部件测试用分选机。根据本发明的电子部件测试用分选机配备有测试腔，该测试腔具有向一侧开口的出入孔，通过出入装置从同一出入孔将电子部件带入测试腔或则带出测试腔，在进行针对电子部件的测试时用开闭装置封闭出入孔。根据本发明，可以在将测...
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