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本实用新型提供了一种杂光检测设备。杂光检测设备包括机构系统，机构系统包括机架主体和检测机构，检测机构位于机架主体内，检测机构包括：光源机构，光源机构包括光源和第一旋转组件，光源位于第一旋转组件上，第一旋转组件以第一轴Y为转轴做旋转运动；镜头...
该专利属于浙江舜宇光学有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江舜宇光学有限公司授权不得商用。

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