杂光检测设备制造技术

本实用新型专利技术提供了一种杂光检测设备。杂光检测设备包括机构系统，机构系统包括机架主体和检测机构，检测机构位于机架主体内，检测机构包括：光源机构，光源机构包括光源和第一旋转组件，光源位于第一旋转组件上，第一旋转组件以第一轴Y为转轴做旋转运动；镜头承放机构，第一旋转组件带动光源绕镜头承放机构做旋转运动，镜头承放机构包括第二旋转组件，光学镜头放置在第二旋转组件上，第二旋转组件以第二轴Z为转轴做旋转运动，第一轴Y与第二轴Z不同轴；检测芯片，检测芯片位于镜头承放机构的下方，对光学镜头进行杂光检测。本实用新型专利技术解决了现有技术中杂光检测设备存在不能实现全角度的杂光检测的问题。

Stray light detection equipment

【技术实现步骤摘要】
杂光检测设备
本技术涉及杂光检测设备
，具体而言，涉及一种杂光检测设备。
技术介绍
镜头在出货之前需要检测杂光，只有检测合格的镜头才能流转下道工序。随着电子产品的发展，镜头产能日益增长，镜头的性能要求也越来越严格。人工作业的检测方法已远远不能满足镜头产能的需求，而其它自动检测方法都各有局限性，不能灵活调整检测角度，通用性不强；检测角度受限，不能实现全角度杂光检测；无法准确记录镜头上检测出的杂光位置，精度差；镜头上不同的检测角度，光照条件难以保持一致，导致杂光漏检。杂光检测的工序多，操作规范要求严格，人工检测会有人力成本高，新员工培养周期长，上手慢等问题。也就是说，现有技术中杂光检测设备存在不能实现全角度的杂光检测的问题。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种杂光检测设备，以解决现有技术中杂光检测设备存在不能实现全角度的杂光检测的问题。为了实现上述目的，根据本技术的一个方面，提供了一种杂光检测设备，包括机构系统，机构系统包括机架主体和检测机构，检测机构位于机架主体内，检测机构包括：光源机构，光源机构包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种杂光检测设备，其特征在于，包括机构系统，所述机构系统包括机架主体(10)和检测机构，所述检测机构位于所述机架主体(10)内，所述检测机构包括：/n光源机构(20)，所述光源机构(20)包括光源(21)和第一旋转组件(22)，所述光源(21)位于所述第一旋转组件(22)上，所述第一旋转组件(22)以第一轴Y为转轴做旋转运动；/n镜头承放机构(30)，所述第一旋转组件(22)带动所述光源(21)绕所述镜头承放机构(30)做旋转运动，所述镜头承放机构(30)包括第二旋转组件(31)，光学镜头(90)放置在所述第二旋转组件(31)上，所述第二旋转组件(31)以第二轴Z为转轴做旋转运动，所述第一...

【技术特征摘要】
1.一种杂光检测设备，其特征在于，包括机构系统，所述机构系统包括机架主体(10)和检测机构，所述检测机构位于所述机架主体(10)内，所述检测机构包括：
光源机构(20)，所述光源机构(20)包括光源(21)和第一旋转组件(22)，所述光源(21)位于所述第一旋转组件(22)上，所述第一旋转组件(22)以第一轴Y为转轴做旋转运动；
镜头承放机构(30)，所述第一旋转组件(22)带动所述光源(21)绕所述镜头承放机构(30)做旋转运动，所述镜头承放机构(30)包括第二旋转组件(31)，光学镜头(90)放置在所述第二旋转组件(31)上，所述第二旋转组件(31)以第二轴Z为转轴做旋转运动，所述第一轴Y与所述第二轴Z不同轴；
检测芯片(40)，所述检测芯片(40)位于所述镜头承放机构(30)的下方，对所述光学镜头(90)进行杂光检测。


2.根据权利要求1所述的杂光检测设备，其特征在于，所述检测机构还包括安装板(50)，所述安装板(50)安装在所述机架主体(10)内，所述光源机构(20)和所述镜头承放机构(30)安装在所述安装板(50)上，所述光源机构(20)与所述镜头承放机构(30)安装在所述安装板(50)的同一侧。


3.根据权利要求2所述的杂光检测设备，其特征在于，所述第一旋转组件(22)包括：
向心轴承组件(221)，所述向心轴承组件(221)安装在所述安装板(50)上，且所述向心轴承组件(221)与所述镜头承放机构(30)相邻；
Y轴旋转平台(222)，所述Y轴旋转平台(222)安装在所述安装板(50)上，所述Y轴旋转平台(222)与所述镜头承放机构(30)相邻，且所述Y轴旋转平台(222)与所述向心轴承组件(221)相对设置；
龙门式摆臂(223)，所述龙门式摆臂(223)的第一端与所述向心轴承组件(221)连接，所述龙门式摆臂(223)的第二端与所述Y轴旋转平台(222)连接，所述光源(21)位于所述龙门式摆臂(223)的横臂(224)上，所述Y轴旋转平台(222)以所述第一轴Y为转轴做旋转运动，带动所述龙门式摆臂(223)绕所述光学镜头(90)转动。


4.根据权利要求3所述的杂光检测设备，其特征在于，所述光源机构(20)还包括调节机构(23)，所述光源(21)通过所述调节机构(23)安装在所述横臂(224)上，所述调节机构(23)包括：
支架(231)，所述光源(21)安装在所述支架(231)上；
第一手动XY角度调节平台(232)，所述第一手动XY角度调节平台(232)位于所述支架(231)下方，且与所述光源(21)间隔设置，所述第一手动XY角度调节平台(232)调节所述光源(21)与所述横臂(224)之间的夹角，调节所述光源(21)的照射方向，以使所述光源(21)能够朝向所述光学镜头(90)照射；
第一手动XY移动平台(233)，所述第一手动XY移动平台(233)位于所述第一手动XY角度调节平台(232)下方，所述第一手动XY移动平台(233)调节所述光源(21)在所述横臂(224)所在平面的位置，以调节所述光源(21)的照射位置，以使所述光源(21)能够照射到所述光学镜头(90)。


5.根据权利要求1所述的杂光检测设备，其特征在于，所述第二旋转组件(31)包括：
第二手动XY移动平台(311)，所述光学镜头(90)安装在所述第二手动XY移动平台(311)上，所述第二手动XY移动平台(311)调节所述光学镜头(90)在所述杂光检测设备所安装的平面内的位置；
转台连接架(312)；
Z轴旋转平台(313)，所述第二手动XY移动平台(311)通过所述转台连接架(312)安装在...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨俊成，郭军华，黄浩滨，叶小伟，沈科良，
申请(专利权)人：浙江舜宇光学有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33