下载半导体结构及其形成方法的技术资料

文档序号:24502043

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本发明实施例提供一种半导体结构及其形成方法,包括:绝缘层位于基板之上;半导体层位于绝缘层之上;以及外延层位于该半导体层之上。半导体层包括:第一埋藏层,具有第一导电类型;以及第二埋藏层位于第一埋藏层之上,具有与第一导电类型相反的第二导电类型,...
该专利属于世界先进积体电路股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过世界先进积体电路股份有限公司授权不得商用。

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