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本发明公开了一种基于单对电极电容成像检测技术的非导电材料开口缺陷宽度方向尺寸量化的方法，涉及无损检测信号处理领域，包括：利用一个极板间距为S的探头接收包括非导电材料开口缺陷在内的输入单对电极电容成像连续n个位置处的检测信号电压值U...
该专利属于中国石油大学(华东)所有，仅供学习研究参考，未经过中国石油大学(华东)授权不得商用。

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