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本实用新型公开了一种通用芯片开短路测试电路，该电路包括单片机、DAC电路、恒流源电路、三态驱动电路、芯片座及高精度ADC采样电路，所述单片机与三态驱动电路连接，该单片机还分别与DAC电路及高精度ADC采样电路连接并通信，所述恒流源电路分别与...
该专利属于深圳市华力宇电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华力宇电子科技有限公司授权不得商用。

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