下载针对CAD至硅背侧图像对准的可见对准标记/界标的技术资料

文档序号:24421806

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金属氧化物半导体(MOS)集成电路(IC)具有多个不同单元尺寸的基准标准单元。不同单元尺寸不均等地被利用。多个基准标准单元被放置为具有从统一的整体放置图案的随机偏移。基准标准单元中的每一个基准标准单元具有至少四个功率轨和各种有源区域集。功率...
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