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一种用于存储器内建自测试(MBIST)的方法和装置可被配置成：从MBIST控制器加载测试程序，执行该测试程序，以及确定通过/未通过结果并将其写入读出寄存器。例如，在各个实施例中，测试程序可包括一个或多个写操作，该一个或多个写操作被配置成：在...
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