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文档序号:24421718
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各种应用可包含设备及/或操作所述设备的方法,所述设备包含具有可被校准的读取电平的存储器装置。使用所述存储器装置来实施的校准控制器可基于来自监测与所述存储器装置相关联的参数的一或多个跟踪器的输入及确定来自与所述监测参数相关的一组事件的至少一个...
该专利属于美光科技公司所有,仅供学习研究参考,未经过美光科技公司授权不得商用。
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