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本发明提供一种浅沟槽隔离结构的制备方法,包括:提供一衬底,所述衬底上形成有硬掩膜层。采用干法刻蚀工艺刻蚀所述硬掩膜层以形成图形化的硬掩膜层。以所述图形化的硬掩膜层为掩膜,采用干法刻蚀工艺刻蚀所述衬底,以在所述衬底中形成沟槽。对所述沟槽执行填...该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。
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本发明提供一种浅沟槽隔离结构的制备方法,包括:提供一衬底,所述衬底上形成有硬掩膜层。采用干法刻蚀工艺刻蚀所述硬掩膜层以形成图形化的硬掩膜层。以所述图形化的硬掩膜层为掩膜,采用干法刻蚀工艺刻蚀所述衬底,以在所述衬底中形成沟槽。对所述沟槽执行填...