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本发明公开了一种检测高分子导电膜的检测片，包括覆铜基板，覆铜基板上包含有上铜速率测试区；上铜速率测试区内设置有无铜区域，无铜区域为在覆铜基板上蚀刻形成的基材裸露区域；覆铜基板上还包含有电阻测试区；电阻测试区内设置有线路和焊盘，线路和焊盘为覆...
该专利属于深圳市富翔科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市富翔科技有限公司授权不得商用。

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