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本发明公开了一种检测赫尔‑肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置，包括密封摄影棚、赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架、无影灯、CCD相机和数据处理系统；赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架上安装有N个赫尔‑肖氏盛颗粒玻片；N个赫尔‑肖氏盛颗粒玻片是厚度相同，但其中的颗粒试样...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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