【技术实现步骤摘要】
一种检测赫尔-肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置及方法
本专利技术涉及水利及岩土工程试验
，特别涉及一种配合赫尔-肖氏渗流侵蚀试验的颗粒试样密实度检验方法。
技术介绍
试样初始密实均匀程度会对试验结果有直接影响。现有赫尔-肖氏薄板试验，是在颗粒试样填装完成后直接开展试验，没有对试样的密实程度及均匀性进行任何检验。试验结果表明：无论在吹气、还是注入液体的外力作用下，试样通常都会优先从初始缺陷处率先破坏。这种因为没有对试样的密实程度和均匀性进行检验，而由试样初始缺陷而导致的试验失败，严重影响了本领域的科研进步。为得到精确的试验结果，急需提出一种试样均匀及密实程度的检验装置及方法，在试验前对试样进行科学的量化标定。
技术实现思路
针对上述现有技术，本专利技术提出一种基于透光度的赫尔-肖氏薄板中均匀颗粒密实度及均匀性的检验装置及方法，本专利技术所述方法首次提出用透光度标定薄层颗粒试样的试验方法，具有巨大的科研意义。本专利技术的一个目的在于提出一种合理、可行的赫尔-肖氏薄板试样检验方法。通过此装置...
【技术保护点】
1.一种检测赫尔-肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置，包括一密封摄影棚(5)，在所述密封摄影棚(5)内设有光源、CCD相机(3)和一圆形的赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)；其特征在于，/n所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)顶部的板面上设有N个用于嵌装赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)的安装卡槽；每个安装卡槽中均嵌装有一个赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)；/n所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)包括盒体(10)，所述盒体(10)设有抽拉式的盖板(9)；/n所述光源采用无影灯(2)，所述无影灯(2)设置在所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)的正上方，所述无影灯(2)的直径尺寸与所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)的...
【技术特征摘要】
1.一种检测赫尔-肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置，包括一密封摄影棚(5)，在所述密封摄影棚(5)内设有光源、CCD相机(3)和一圆形的赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)；其特征在于，
所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)顶部的板面上设有N个用于嵌装赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)的安装卡槽；每个安装卡槽中均嵌装有一个赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)；
所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)包括盒体(10)，所述盒体(10)设有抽拉式的盖板(9)；
所述光源采用无影灯(2)，所述无影灯(2)设置在所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)的正上方，所述无影灯(2)的直径尺寸与所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)的尺寸相符；
所述CCD相机(3)设置在所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)的正下方，所述CCD相机(3)的镜头朝向所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)，所述CCD相机(3)通过通讯接口连接至一数据处理系统(4)；
所述数据处理系统(4)包括安装在一台计算机中的图像识别软件，所述数据处理系统(4)接收、记录和处理来自于所述CCD相机(3)的数据。
2.根据权利要求1所述的的检测赫尔-肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置，其特征在于，所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)由刚性不透光材质制作，所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)的顶部板面上的N个安装卡槽的大小和形状相同，并与所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)中的盒体(10)的外形相配合。
3.根据权利要求1所述的检测赫尔-肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置，其特征在于，所述盒体(10)具有相对的两个平行的侧壁，两个侧壁的内表面上设有位置对正的插拔槽(8)，所述盖板(9)与所述插拔槽(8)滑动配合，以实现盒体(10)的打开或关闭。
4.根据权利要求1或3所述的检测赫尔-肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置，其特征在于，所述盒体(10)和盖板(9)的材料均为玻璃钢透明材料。
5.根据权利要求4所述的检测赫尔-肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置，其特征在于，所述盒体(10)的高度为0.5～3.0mm。
6.根据权利要求4所述的检...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑刚，佟婧博，张天奇，张晓凯，邱惠敏，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：天津;12
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