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本发明公开了一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置和方法。待测对象带材置于第一第二透镜之间，光源发出的光束，经过第一透镜汇聚成平行光束后，再经第二透镜汇聚入射到电桥光电测量电路的光敏电阻上，经第一透镜出射的光束一部分被带材阻挡，另一部分直...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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