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本发明公开了一种双探针的纳米测量仪器，包括测量器主体；所述测量器主体的前端设有第一探针、第二探针；所述第一探针用于探测外部环境干扰下的被测物体的信号；所述第二探针用于探测被测物体的附近环境的干扰信号；本发明的有益效果在于：本设计采用了双探针...
该专利属于深圳明锐仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳明锐仪器有限公司授权不得商用。

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