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一种用于测试芯片导通电阻值的测试装置，涉及芯片检测技术领域。包括基台、陶瓷片和探针。基台的顶部开设有凹槽，陶瓷片容置于凹槽并由粘接剂固定。陶瓷片表面做镀金处理，且其表面由导线电连接至电阻测试装置的第一端头。探针由导线电连接至电阻测试装置的第...
该专利属于四川科尔威光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过四川科尔威光电科技有限公司授权不得商用。

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