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本实用新型涉及杂质检测技术领域，尤其涉及一种基体分离测试焊锡中杂质的测试装置，包括：中央处理器、红外光发射器及红外光传感器。通过红外光发射器实现了对红外光电路的恒流驱动发光，产生的稳定红外光发射到基体分离测试焊锡中，经过CCD图像传感器对焊...
该专利属于深圳市安普检测技术服务有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市安普检测技术服务有限公司授权不得商用。

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