温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型提供一种3D锡膏检测用平整度检测装置，包括凸透镜、支撑杆、调节杆、滑块、放置台、支架、透明托盘以及固定环，橡胶台上端面安装有放置台，放置台中间位置装配有透明托盘，放置台下侧装配有支架，放置台上端面装配有滑块，滑块上侧装配有调节杆，...
该专利属于深圳市特普科电子设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市特普科电子设备有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。