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本发明公开了一种用于测量Si‑PIN探测器有效面积的准直器及其使用方法，所述准直器包括：AB两个部件，A部件位于射线源预设范围内，用于对光源发光区域进行限制；B部件用在探测器段，用于对射线进行准直和限光，并屏蔽其它方向的干扰射线；A部件为带...
该专利属于中国工程物理研究院流体物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院流体物理研究所授权不得商用。

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