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本发明涉及一种光偏振态测试装置及其测试方法，所述光偏振态测试装置包括：液晶盒组，包括层叠设置的多个液晶盒，每个所述液晶盒受设定的电压控制以产生0°或λ/4的相位延迟；偏光片，贴合设于所述液晶盒组的表面；光侦测器，设于所述偏光片的远离所述液晶...该专利属于业成科技(成都)有限公司;业成光电(深圳)有限公司;英特盛科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过业成科技(成都)有限公司;业成光电(深圳)有限公司;英特盛科技股份有限公司授权不得商用。