光偏振态测试装置及其测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种光偏振态测试装置及其测试方法，所述光偏振态测试装置包括：液晶盒组，包括层叠设置的多个液晶盒，每个所述液晶盒受设定的电压控制以产生0°或λ/4的相位延迟；偏光片，贴合设于所述液晶盒组的表面；光侦测器，设于所述偏光片的远离所述液晶盒组的一侧，用于接收光信号，并将所述光信号转化为电信号；分析单元，与所述光侦测器连接，用于根据所述电信号获取测试光的偏振态；其中，所述多个液晶盒以设定的规则进行配向，且每个所述液晶盒的配向方向互不相同。本发明专利技术基于液晶分子的加电偏转和双折射的特性，实现了一种体积小、制造成本低且测试速度快的光偏振态测试装置。

Optical polarization state testing device and its testing method

【技术实现步骤摘要】
光偏振态测试装置及其测试方法
本专利技术涉及光测量
，特别是涉及一种光偏振态测试装置及其测试方法。
技术介绍
偏振是光的一个重要特性，反映了光的振动方向与传播方向之间的不对称关系，光根据其偏振特性分为自然光、完全偏振光和部分偏振光，完全偏振光又包括线偏振光、椭圆偏振光和圆偏振光。偏振光作为光源被广泛应用于各个
，如光刻、3D电影、液晶显示屏、红外偏振光治疗等，光源的偏振态决定了其在所述各个领域中的应用效果，因此需要对光源的偏振态进行严格的测试，以保证其使用效果。此外，偏振光测试也被应用于材料分析领域，因为偏振光通过一些介质后，其偏振态会发生一定的变化，通过分析光束在入射介质前后的偏振态变化，可以获取介质的相关物理性质，从而根据其物理性质进一步分析材料的分子结构、组成等特性。目前的光偏振态测试装置通常采用1/4波片、偏光片与光电探测器相配合的结构，通过机械结构旋转1/4波片改变投射到光电探测器上的光强大小，从而进行光的偏振态测试。但是，一方面旋转的机械结构较大，测试设备无法缩小，而且机械结构容易发生磨损，导致制造和维护成本较高本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光偏振态测试装置，其特征在于，包括：/n液晶盒组，包括层叠设置的多个液晶盒，每个所述液晶盒受设定的电压控制以产生0°或λ/4的相位延迟；/n偏光片，贴合设于所述液晶盒组的表面；/n光侦测器，设于所述偏光片的远离所述液晶盒组的一侧，用于接收光信号，并将所述光信号转化为电信号；/n分析单元，与所述光侦测器连接，用于根据所述电信号获取测试光的偏振态；/n其中，所述多个液晶盒以设定的规则进行配向，且每个所述液晶盒的配向方向互不相同。/n

【技术特征摘要】
1.一种光偏振态测试装置，其特征在于，包括：
液晶盒组，包括层叠设置的多个液晶盒，每个所述液晶盒受设定的电压控制以产生0°或λ/4的相位延迟；
偏光片，贴合设于所述液晶盒组的表面；
光侦测器，设于所述偏光片的远离所述液晶盒组的一侧，用于接收光信号，并将所述光信号转化为电信号；
分析单元，与所述光侦测器连接，用于根据所述电信号获取测试光的偏振态；
其中，所述多个液晶盒以设定的规则进行配向，且每个所述液晶盒的配向方向互不相同。


2.根据权利要求1所述的光偏振态测试装置，其特征在于，每个所述液晶盒设定的配向方向与所述偏光片的透过轴之间的夹角θ为0°、中的一个，所述液晶盒与所述夹角θ一一对应，其中，N为所述液晶盒组包括的液晶盒的数量，N≥4。


3.根据权利要求2所述的光偏振态测试装置，其特征在于，每个所述液晶盒电压控制的方式为分时调控。


4.根据权利要求3所述的光偏振态测试装置，其特征在于，所述液晶盒包括依次设置的第一玻璃层、第一电极层、第一配向膜、液晶层、第二配向膜、第二电极层和第二玻璃层。


5.根据权利要求4所述的光偏振态测试装置，其特征在于，所述液晶盒为ECB型液晶盒，所述液晶盒设定的配向方向为所述第一配向膜的配向方向，所述第二配向膜与所述第一配向膜...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈伯纶，陈俊达，黄达人，孙宜嶙，王毓仁，谢怀安，林怡欣，
申请(专利权)人：业成科技成都有限公司，业成光电深圳有限公司，英特盛科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51