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表面形貌检测方法技术
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文档序号:24348165
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本发明提供一种表面形貌检测方法,所述方法包含下列步骤。首先,提供测试光线,测试光线用以测量对象的表面形貌。于测试光线的光学路径上,提供空间光调制器,空间光调制器具有多个像素。控制空间光调制器,于第一时间区间开启所述多个像素中的第一像素群组,...
该专利属于致茂电子(苏州)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过致茂电子(苏州)有限公司授权不得商用。
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