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本发明的频谱分析装置(1)是基于包含多个基准物中的任意一个或两个以上的基准物的分析对象物所产生的光的频谱对该分析对象物进行分析的装置，且具备排列变换部(10)、处理部(20)、学习部(30)及分析部(40)。排列变换部(10)基于基准物或分...
该专利属于浜松光子学株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过浜松光子学株式会社授权不得商用。

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