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一种氮化镓基异质结集成器件结构的制造方法,包括:在硅片表面依次生长AIN成核层、GaN缓冲层、氮化镓沟道层、无掺杂势垒层和pGaN层;在所述pGaN层表面积淀光刻涂层,利用掩模版暴露出部分pGaN层表面并用注入硅离子;对注入的硅离子进行退火...该专利属于香港商莫斯飞特半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过香港商莫斯飞特半导体有限公司授权不得商用。
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一种氮化镓基异质结集成器件结构的制造方法,包括:在硅片表面依次生长AIN成核层、GaN缓冲层、氮化镓沟道层、无掺杂势垒层和pGaN层;在所述pGaN层表面积淀光刻涂层,利用掩模版暴露出部分pGaN层表面并用注入硅离子;对注入的硅离子进行退火...