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实施方式的半导体存储装置具备：存储区域，具备多个存储单元；及第1电路，计算检测出错误的存储单元的错误率，在所述错误率低于第1值且高于第2值的情况下，对所述存储单元进行恢复处理。...
该专利属于东芝存储器株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过东芝存储器株式会社授权不得商用。

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