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本发明公开了一种生产参数确定方法及装置、系统、存储介质和电子设备，涉及半导体制造技术领域。该生产参数确定方法包括：确定一工艺制程的历史工艺数据；利用所述历史工艺数据对一神经网络模型进行训练，以确定训练后的神经网络模型；将所述工艺制程中工艺机...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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