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本发明公开了集成电路测试技术领域的一种基于云端服务器的集成电路测试反馈系统，包括云端服务器、测试单元、测试机组和人工操作平台；所述测试机组的数量至少为一组，且所述测试机组用于输出待检测测试数据；所述测试单元和所述测试机组相连接，且所述测试单...
该专利属于上海春尚电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海春尚电子科技有限公司授权不得商用。

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