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本实用新型涉及集成电路检测技术领域，且公开了一种集成电路测试装置，包括安装框，安装框的上端固定连接有倒“U”形支撑架，支撑架的下端安装有测试仪，安装框内通过调节机构连接有四个定位块，定位块靠近安装框中心的拐角处开设有定位槽，四个定位槽内共同...
该专利属于广州市晶硅光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广州市晶硅光电科技有限公司授权不得商用。

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