一种集成电路测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及集成电路检测技术领域，且公开了一种集成电路测试装置，包括安装框，安装框的上端固定连接有倒“U”形支撑架，支撑架的下端安装有测试仪，安装框内通过调节机构连接有四个定位块，定位块靠近安装框中心的拐角处开设有定位槽，四个定位槽内共同卡接有集成电路板；调节机构包括限位槽、限位块、调节杆、螺纹套和第一螺杆，两个限位槽对称开设在安装框内侧，四个限位块分别与两个限位槽滑动连接，调节杆的两端分别固定连接在两个相对应的限位块的侧壁上，螺纹套固定连接在调节杆的下端中心处，第一螺杆分别与两个螺纹套螺纹连接。本实用新型专利技术使得能够对不同规格的集成电路板检测。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置
本技术涉及集成电路检测
，尤其涉及一种集成电路测试装置。
技术介绍
集成电路板是载装集成电路的一个载体。目前集成电路板在出厂前都需要进检测，来验证是否合格，但是现有的检测装置大多只能对某一特定规格的集成电路板进行固定，进而使得对不同规格的集成电路板检测时十分地不便。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中检测装置大多只能对某一特定规格的集成电路板进行固定，进而使得对不同规格的集成电路板检测时十分地不便的问题，而提出的一种集成电路测试装置。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种集成电路测试装置，包括安装框，所述安装框的上端固定连接有倒“U”形支撑架，所述支撑架的下端安装有测试仪，所述安装框内通过调节机构连接有四个定位块，所述定位块靠近安装框中心的拐角处开设有定位槽，四个所述定位槽内共同卡接有集成电路板；所述调节机构包括限位槽、限位块、调节杆、螺纹套和第一螺杆，两个所述限位槽对称开设在安装框内侧，四个所述限位块分别与两个限位槽滑动连接，所述调节杆的两端分别固定连接在两个相对应的限位块的侧壁上，所述螺纹套固定连接在调节杆的下端中心处，所述第一螺杆分别与两个螺纹套螺纹连接，所述第一螺杆上对称开设有方向相反的螺纹，所述第一螺杆的一端通过第一轴承与安装框内转动连接，另一端穿过安装框并向外延伸，四个所述定位块分别通过定位机构连接在两个调节杆上。优选的，所述定位机构包括通孔、固定槽、固定块、螺纹孔和第二螺杆，所述通孔开设在定位块上，所述调节杆穿过通孔设置，所述固定槽开设在通孔的孔壁上，所述固定块滑动连接在固定槽内，所述固定槽的槽底开设有螺纹孔，所述第二螺杆与螺纹孔螺纹连接，所述第二螺杆的靠近通孔的一端通过第二轴承与固定块转动连接，所述第二螺杆的另一大穿过螺纹孔的孔口并向外延伸，所述固定块远离第二螺杆的一端穿过固定槽的槽口且与调节杆的杆壁相抵。优选的，所述第一螺杆远离第一轴承的一端固定连接有第一转动把手，所述第二螺杆远离第二轴承的一端固定连接有第二转动把手。优选的，所述调节杆的杆壁上对称开设有稳定槽，所述稳定槽内滑动连接有稳定块，所述稳定块远离稳定槽槽底的一端穿过稳定槽的槽口并固定连接在通孔的对应孔壁山。优选的，所述安装框的底部四角处均固定连接有支撑脚。优选的，所述安装框上涂有防腐涂层。与现有技术相比，本技术提供了一种集成电路测试装置，具备以下有益效果：1、该集成电路测试装置，通过设置安装框、支撑架、测试仪、调节机构、定位块、定位槽、集成电路板和定位机构，可对不同规格的电路板进行固定，然后使用测试仪对其进行检测，便于对不同电路板进行检测。2、该集成电路测试装置，通过设置定位机构、固定槽、固定块和第二螺杆，便于对不同规格的电路板进行固定。该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本技术使得能够对不同规格的集成电路板检测。附图说明图1为本技术提出的一种集成电路测试装置的侧视示意图；图2为本技术提出的一种集成电路测试装置安装框的俯视结构示意图；图3为本技术提出的一种集成电路测试装置安装框的俯视示意图；图4为图2中A部分的放大图。图中：1安装框、2支撑架、3测试仪、4调节机构、41限位槽、42限位块、43调节杆、44螺纹套、45第一螺杆、5定位块、6定位槽、7集成电路板、8定位机构、81固定槽、82固定块、83第二螺杆、9第一转动把手、10第二转动把手、11稳定槽、12稳定块、13支撑脚。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。参照图1-4，一种集成电路测试装置，包括安装框1，安装框1的上端固定连接有倒“U”形支撑架2，支撑架2的下端安装有测试仪3，安装框1内通过调节机构4连接有四个定位块5，定位块5靠近安装框1中心的拐角处开设有定位槽6，四个定位槽6内共同卡接有集成电路板7；调节机构4包括限位槽41、限位块42、调节杆43、螺纹套44和第一螺杆45，两个限位槽41对称开设在安装框1内侧，四个限位块42分别与两个限位槽41滑动连接，调节杆43的两端分别固定连接在两个相对应的限位块42的侧壁上，螺纹套44固定连接在调节杆43的下端中心处，第一螺杆45分别与两个螺纹套44螺纹连接，第一螺杆45上对称开设有方向相反的螺纹，第一螺杆45的一端通过第一轴承与安装框1内转动连接，另一端穿过安装框1并向外延伸，四个定位块5分别通过定位机构8连接在两个调节杆43上，当需要对不同规格的集成电路板进行检测时，转动第一螺杆45，在螺纹的作用下两个螺纹套44带动两个调节杆43移动，两个调节杆43带动其上的四个定位块5移动，当横向距离合适时，停止转动第一螺杆45，然后在通过定位机构8对四个定位块5的纵向距离进行调节，当调节完成后，即可对不同规格的电路板进行固定，然后使用测试仪3对其进行检测，便于对不同电路板进行检测。定位机构8包括通孔、固定槽81、固定块82、螺纹孔和第二螺杆83，通孔开设在定位块5上，调节杆43穿过通孔设置，固定槽81开设在通孔的孔壁上，固定块82滑动连接在固定槽81内，固定槽81的槽底开设有螺纹孔，第二螺杆83与螺纹孔螺纹连接，第二螺杆83的靠近通孔的一端通过第二轴承与固定块82转动连接，第二螺杆83的另一大穿过螺纹孔的孔口并向外延伸，固定块82远离第二螺杆83的一端穿过固定槽81的槽口且与调节杆43的杆壁相抵，当需要调节四个定位块5的纵向距离时，首先反向转动第二螺杆83，使得第二螺杆83带动固定块82缩进固定槽81内，与调节杆43脱离，然后即可调节四个定位块5的纵向距离，当调整到合适位置后，正向转动第二螺杆83，使得固定块82与调节杆43的杆壁相抵，将定位块5固定住，便于对不同规格的电路板进行固定。第一螺杆45远离第一轴承的一端固定连接有第一转动把手9，便于转动第一螺杆45，第二螺杆83远离第二轴承的一端固定连接有第二转动把手10，便于转动第二螺杆83。调节杆43的杆壁上对称开设有稳定槽11，稳定槽11内滑动连接有稳定块12，稳定块12远离稳定槽11槽底的一端穿过稳定槽11的槽口并固定连接在通孔的对应孔壁山，让定位块5在调节杆43上移动地更加稳定可靠。安装框1的底部四角处均固定连接有支撑脚13，对整个装置起了支撑的作用。安装框1上涂有防腐涂层，起了防腐的作用。本技术中，当本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试装置，包括安装框（1），其特征在于，所述安装框（1）的上端固定连接有倒“U”形支撑架（2），所述支撑架（2）的下端安装有测试仪（3），所述安装框（1）内通过调节机构（4）连接有四个定位块（5），所述定位块（5）靠近安装框（1）中心的拐角处开设有定位槽（6），四个所述定位槽（6）内共同卡接有集成电路板（7）；所述调节机构（4）包括限位槽（41）、限位块（42）、调节杆（43）、螺纹套（44）和第一螺杆（45），两个所述限位槽（41）对称开设在安装框（1）内侧，四个所述限位块（42）分别与两个限位槽（41）滑动连接，所述调节杆（43）的两端分别固定连接在两个相对应的限位块（42）的侧壁上，所述螺纹套（44）固定连接在调节杆（43）的下端中心处，所述第一螺杆（45）分别与两个螺纹套（44）螺纹连接，所述第一螺杆（45）上对称开设有方向相反的螺纹，所述第一螺杆（45）的一端通过第一轴承与安装框（1）内转动连接，另一端穿过安装框（1）并向外延伸，四个所述定位块（5）分别通过定位机构（8）连接在两个调节杆（43）上。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，包括安装框（1），其特征在于，所述安装框（1）的上端固定连接有倒“U”形支撑架（2），所述支撑架（2）的下端安装有测试仪（3），所述安装框（1）内通过调节机构（4）连接有四个定位块（5），所述定位块（5）靠近安装框（1）中心的拐角处开设有定位槽（6），四个所述定位槽（6）内共同卡接有集成电路板（7）；所述调节机构（4）包括限位槽（41）、限位块（42）、调节杆（43）、螺纹套（44）和第一螺杆（45），两个所述限位槽（41）对称开设在安装框（1）内侧，四个所述限位块（42）分别与两个限位槽（41）滑动连接，所述调节杆（43）的两端分别固定连接在两个相对应的限位块（42）的侧壁上，所述螺纹套（44）固定连接在调节杆（43）的下端中心处，所述第一螺杆（45）分别与两个螺纹套（44）螺纹连接，所述第一螺杆（45）上对称开设有方向相反的螺纹，所述第一螺杆（45）的一端通过第一轴承与安装框（1）内转动连接，另一端穿过安装框（1）并向外延伸，四个所述定位块（5）分别通过定位机构（8）连接在两个调节杆（43）上。


2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述定位机构（8）包括通孔、固定槽（81）、固定块（82）、螺纹孔和第二螺杆（83），所述通孔开设在定位块（5）上，所述调节杆（43）...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵晓帆，欧雪霞，
申请(专利权)人：广州市晶硅光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44