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一种环境舱温度均匀性测试方法及样品盛放装置，方法的步骤如下：S1、制作样品架，样品架包括框架结构和包裹框架结构的面板，框架结构的顶部作为挂载层，底板用于搭载检测设备及必要盛放重型样品，竖向支撑柱上还设置有若干个与底板平行的承载层；S2、在样...该专利属于清华大学合肥公共安全研究院所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学合肥公共安全研究院授权不得商用。
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一种环境舱温度均匀性测试方法及样品盛放装置，方法的步骤如下：S1、制作样品架，样品架包括框架结构和包裹框架结构的面板，框架结构的顶部作为挂载层，底板用于搭载检测设备及必要盛放重型样品，竖向支撑柱上还设置有若干个与底板平行的承载层；S2、在样...