一种环境舱温度均匀性测试方法及样品盛放装置制造方法及图纸

技术编号:24320682 阅读:37 留言:0更新日期:2020-05-29 16:40
一种环境舱温度均匀性测试方法及样品盛放装置,方法的步骤如下:S1、制作样品架,样品架包括框架结构和包裹框架结构的面板,框架结构的顶部作为挂载层,底板用于搭载检测设备及必要盛放重型样品,竖向支撑柱上还设置有若干个与底板平行的承载层;S2、在样品架的中的每个拐角处和承载层均设置温度传感器;S3、移动样品架在环境舱内的位置,获得每个位置中样品架上所有的温度传感器的数值,计算标准差;S4、当温度采集数据区域内标准差达到95%时,作为环境舱内的最佳位置。本发明专利技术解决了极限温度下环境舱装备检测时,样品、测量设备不同位置承载需求,以及传感器精确布点以及固定问题。并通过传感器布点监测,可实现移测架空间内温度均匀性检测。

【技术实现步骤摘要】
一种环境舱温度均匀性测试方法及样品盛放装置
本专利技术属于装备检验检测
,尤其涉及一种环境舱温度均匀性测试方法及样品盛放装置。
技术介绍
环境舱是由密封舱、空气过滤器、空气温湿度调节控制及监控系统等组成,并通过控制舱体内部的温度、相对湿度等环境因素从而模拟环境条件的试验设备。现在广泛利用环境舱进行环境模拟试验,以此来开展电子电工产品、应急装备的环境适应性研究,并检测装备在极限温度(极限高温、极限低温)条件下是否正常运行。环境舱内通常需要进行极限温度下的环境试验。此时,实验舱内的温度极高或极低(极限温度已超出人体可承受极限),实验人员进入舱内对人体的负荷较大且不安全。同时,大型环境实验舱内,实验时需要在舱内不同高度、不同位置进行温湿度传感器布点,测量极限条件下装备运行状态。因此,迫切需要有一种环境舱温度均匀性测试方法及样品盛放装置,满足样品、测量设备不同位置承载需求,并方便进行传感器布点以及固定;避免温度实验给操作人员的带来身体伤害,同时降低试验过程中人为操作带来的误差。
技术实现思路
为了实现满足样品、测量设备本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种环境舱温度均匀性测试方法,其特征在于,包括以下步骤:/nS1、制作样品架,所述样品架包括框架结构和包裹框架结构的面板,所述框架结构的顶部作为挂载层(11),所述挂载层(11)在框架内部设置有挂钩(2),底板(12)用于搭载检测设备及必要盛放重型样品,所述底板(12)和挂载层(11)通过竖向支撑柱(13)连接,所述竖向支撑柱(13)上还设置有若干个与底板(12)平行的承载层(3);/nS2、在样品架的框架结构中的每个拐角处和承载层(3)均设置温度传感器(6);/nS3、移动样品架在环境舱内的位置,获得每个位置中样品架上所有的温度传感器的数值,根据以下公式计算标准差:/n

【技术特征摘要】
1.一种环境舱温度均匀性测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、制作样品架,所述样品架包括框架结构和包裹框架结构的面板,所述框架结构的顶部作为挂载层(11),所述挂载层(11)在框架内部设置有挂钩(2),底板(12)用于搭载检测设备及必要盛放重型样品,所述底板(12)和挂载层(11)通过竖向支撑柱(13)连接,所述竖向支撑柱(13)上还设置有若干个与底板(12)平行的承载层(3);
S2、在样品架的框架结构中的每个拐角处和承载层(3)均设置温度传感器(6);
S3、移动样品架在环境舱内的位置,获得每个位置中样品架上所有的温度传感器的数值,根据以下公式计算标准差:



式中:Xn表示每个传感器采集的温度值,N表示传感器总数量,表示n个温度值的平均值;
S4、当温度采集数据的区域标准差达到95%时,作为环境舱内的最佳位置。


2.实现权利要求1所述的一种环境舱温度均匀性测试方法的样品盛放装置,其特征在于,所述承载层(3)为网状结构,且在所述竖向支撑柱(13)的高度方向上可来回移动。


3.根据权利要求2所述的样品盛放装置,其特征在于,所述承载层(3)为钢丝网结构。


4.根据权利要求2所述的样品盛放装置,其特征在于,所述承载层(3)可拆卸。


5.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:林虹霞方成周帆武金模陆彭飞刘小勇付明张蕾侠
申请(专利权)人:清华大学合肥公共安全研究院
类型:发明
国别省市:安徽;34

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