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本发明提供一种检测装置，目的在于提高抗噪性。该检测装置具有：半导体基板；检测部，其设置于所述半导体基板的上方，输出与物理量对应的信号；以及噪声抑制层，其设置于所述检测部的下方的所述半导体基板内，或所述检测部与所述半导体基板之间。...
该专利属于美蓓亚三美株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过美蓓亚三美株式会社授权不得商用。

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