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一种用于测量光谱的装置，包括：光源阵列，被配置为朝向对象发射光；光电检测器，被配置为检测被对象反射的光；以及处理器，被配置为：使用光源阵列和光电检测器，基于光源阵列的温度变化来测量多个温度校正光谱；通过分析所测量的多个温度校正光谱来获得光源...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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