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本实用新型涉及芯片检测技术领域，更具体地说，它涉及一种高电流测试探针，包括针体和导电套，导电套设有供针体容纳的内腔，内腔的内壁抵接针体侧壁，内腔相对的两端设有供针体两端部分别穿出的通孔；本实用新型采用在探针外套设导电套，导电套的内壁与高电流...
该专利属于深圳市容微精密电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市容微精密电子有限公司授权不得商用。

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