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本实用新型涉及探针台技术领域，具体是一种半导体芯片测试用的自动探针台，用于解决现有导体芯片全自动探针台的方位调节精度不够高，导致对芯片检测的准确性不够高的问题。本实用新型包括底座，所述底座上安装有观测台，所述底座顶面安装有与观测台相对应且可...
该专利属于成都汉芯国科集成技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都汉芯国科集成技术有限公司授权不得商用。

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