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本发明公开了一种磁盘I/O性能测试方法及装置，该方法包括S1.通过IO数据流抓取，获取应用的IO特征数据；S2.设置回放策略，在目标设备上进行所述IO特征数据回放；S3.收集目标设备的性能值，进行IO分析，并得出结果；本发明可以对块设备进行...
该专利属于曙光信息产业(北京)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过曙光信息产业(北京)有限公司授权不得商用。

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