一种磁盘I/O性能测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种磁盘I/O性能测试方法及装置，该方法包括S1.通过IO数据流抓取，获取应用的IO特征数据；S2.设置回放策略，在目标设备上进行所述IO特征数据回放；S3.收集目标设备的性能值，进行IO分析，并得出结果；本发明专利技术可以对块设备进行自动化IO测试，评估一个磁盘的性能，或者进行故障分析：由于测试中不可能测试所有的应用，本发明专利技术通过流量抓取，能够获取现场应用场景的真实IO情况，然后在目标设备上进行回放，完全复制现场，继而能够覆盖更多的客户场景，进行磁盘性能测试；基于设置的回放策略算法，提高测试准确性，可以用于分析设备IO性能低的问题，找到导致IO性能低的进程。

A test method and device of disk I / O performance

【技术实现步骤摘要】
一种磁盘I/O性能测试方法及装置
本专利技术涉及硬盘测试
，具体而言，为一种磁盘I/O性能测试方法及装置。
技术介绍
在服务器测试中，存储系统的性能是一个很重要的衡量标准。目前基于不同的应用场景，IO数据流呈现出多样性，在一组读写操作流中数据块大小、队列深度、读写模式都随着应用场景不同而在变化，这些可变参数的排列组合是一个很大的测试集，在实际测试中不可能完全覆盖。而且在硬盘性能测试中，通过典型IO模型来进行性能测试，通过测试的硬盘，在客户应用中仍会出现性能低的问题，而实际情况是针对客户的应用更加难以模拟，无法进行针对性的测试。有鉴于此，特提出本专利技术。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷，本专利技术提供一种新的磁盘I/O性能测试方法及装置，用于磁盘性能测试，以利于增大测试的覆盖度和准确性。为了实现上述目的，本专利技术的技术方案为：一种磁盘I/O性能测试方法，包括S1.通过IO数据流抓取，获取应用的IO特征数据；S2.设置回放策略，在目标设备上进行所述IO特征数据回放；S本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁盘I/O性能测试方法，其特征在于，包括/nS1.通过IO数据流抓取，获取应用的IO特征数据；/nS2.设置回放策略，在目标设备上进行所述IO特征数据回放；/nS3.收集目标设备的性能值，进行IO分析，并得出结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种磁盘I/O性能测试方法，其特征在于，包括
S1.通过IO数据流抓取，获取应用的IO特征数据；
S2.设置回放策略，在目标设备上进行所述IO特征数据回放；
S3.收集目标设备的性能值，进行IO分析，并得出结果。


2.根据权利要求1所述的磁盘I/O性能测试方法，其特征在于，所述S1.通过IO数据流抓取，获取应用的IO特征数据，包括
通过交互式的工具，获取操作类型、待流量抓取的设备名以及流量抓取的时长信息进行流量抓取；
抓取后的IO特征数据，放在profile文件夹下。


3.根据权利要求2所述的磁盘I/O性能测试方法，其特征在于，所述S2.设置回放策略，在目标设备上进行所述IO特征数据回放，包括
根据所述工具中对IO数据流抓取后生成的profile文件，获取操作类型、待流量抓取的设备名以及流量抓取的时长信息在目标设备上进行流量回放；
回放时按照所述回放策略：基于每个被回放过的文件，通过计数器记录该文件的回放次数；每次执行工具时，优先从回放次数低的profile文件开始遍历，继而每次一个IO流进行全随机遍历和每次多个IO流进行全随机遍历。


4.根据权利要求3所述的磁盘I/O性能测试方法，其特征在于，所述每次多个IO流进行全随机遍历时，IO流个数取决于回放的时间，通过时间计算能回放文件的个数。


5.根据权利要求1-4任一项所述的磁盘I/O性能测试方法，其特征在于，所述流量抓取通过内核自带的blktrace模块，将待抓取设备的IO数据流进行trace；在trace的时候，分配物理机上逻辑cpu核心的所有核心，启动相对应数量的线程来绑定每一个核心，收集数据，在/sys/kernel/debug下每个线程将产生一个文件；所述交互式工具通过多线程方式，每个线程处理一个文件，将生成的文件经过btrecord解析，提取需要回放的IO信息。


6.一种磁盘I/O性...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈颖，秦晓宁，
申请(专利权)人：曙光信息产业北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11