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基于特征相位约束的结构光360°三维面形测量方法技术
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下载基于特征相位约束的结构光360°三维面形测量方法的技术资料
文档序号:24249964
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本发明提供一种基于特征相位约束的结构光360°三维面形测量方法,属于结构光三维测量领域。本发明所述方法包括标定投影仪‑摄像机系统、采集图像、重建单次测量结果、提取约束点、计算变换参数和统一坐标系六个步骤。本发明所述方法摒弃了传统360°测量...
该专利属于四川大学所有,仅供学习研究参考,未经过四川大学授权不得商用。
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