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本发明涉及集成电路检测技术领域，公开一种面向处理器芯片的静电放电抗扰度测试组件及方法，以提高测试的精细度和便利性。本发明组件包括：分别用于测试IC芯片不同引脚抗扰度的无电容探针和带电容探针；探针连接器，一端用于连接静电放电发生器的输出端，一...该专利属于天津市滨海新区军民融合创新研究院;中国人民解放军国防科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津市滨海新区军民融合创新研究院;中国人民解放军国防科技大学授权不得商用。