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本发明涉及集成电路测试技术领域，公开一种集成电路TEM小室测量系统及方法，以获取测试的多维数据确保测试的准确度。本发明系统包括：TEM小室，用于接收被测芯片发射的电磁场；电磁干扰测试接收机，通过射频线与所述TEM小室相连，用于采集所述TEM...该专利属于天津市滨海新区军民融合创新研究院;中国人民解放军国防科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津市滨海新区军民融合创新研究院;中国人民解放军国防科技大学授权不得商用。